HAST试验箱，全称为高压加速老化试验箱，主要用于测试IC封装、半导体、微电子芯片、磁性材料等产品的密封性能和老化性能。它属于非饱和型试验箱，具有可调节的温度和湿度范围，能够进行高温高湿、高低温循环、双85、双95、高温高湿高压等测试，因此也被称为全能型老化测试设备。
高低温湿热试验箱则主要用于测试材料在高温、低温以及湿热环境下的性能表现。它可以进行高温和低温测试，同时也可以进行湿度控制，实现温度和湿度的循环变化。这种试验箱一般能做到的温度范围是-20℃到150℃，湿度范围20%到98%RH，有的甚至可以做到更低的湿度条件。
具体来说，HAST试验箱与高低温湿热试验箱的区别主要体现在以下几个方面：
1.测试目的：HAST试验箱主要关注产品的密封性能和老化性能，而高低温湿热试验箱则侧重于材料在极端环境下的性能表现。
2.功能特点：HAST试验箱属于非饱和型，温度和湿度可调，适合进行多种环境模拟测试。高低温湿热试验箱则更专注于高低温与湿度的循环变化测试。
3.应用领域：HAST试验箱适用于电子元器件、IC封装等产品的可靠性测试。高低温湿热试验箱则广泛应用于电子、元器件、电路板、通讯、LED等行业，用于检验产品在这些行业中的环境适应性。
可以说HAST试验箱与高低温湿热试验箱虽然都用于测试材料的性能，但它们的测试目的、功能特点和应用领域有所不同，选择使用哪种试验箱取决于具体的测试需求。
